defect semiconductor

См. также в других словарях:

• defect semiconductor — skylinis puslaidininkis statusas T sritis chemija apibrėžtis Puslaidininkis, kuriame skylių tankis didesnis už laisvųjų elektronų tankį. atitikmenys: angl. defect semiconductor; hole semiconductor; p type semiconductor rus. дырочный… …   Chemijos terminų aiškinamasis žodynas

• Semiconductor device fabrication — Semiconductor manufacturing processes 10 µm 1971 3 µm 1975 1.5 µm 1982 …   Wikipedia

• Semiconductor process simulation — is the modeling of the fabrication of semiconductor devices such as transistors. It is a branch of electronic design automation, and part of a sub field known as technology CAD, or TCAD. 400px|right|thumb|This figure shows a result from… …   Wikipedia

• hole semiconductor — skylinis puslaidininkis statusas T sritis chemija apibrėžtis Puslaidininkis, kuriame skylių tankis didesnis už laisvųjų elektronų tankį. atitikmenys: angl. defect semiconductor; hole semiconductor; p type semiconductor rus. дырочный… …   Chemijos terminų aiškinamasis žodynas

• p-type semiconductor — skylinis puslaidininkis statusas T sritis chemija apibrėžtis Puslaidininkis, kuriame skylių tankis didesnis už laisvųjų elektronų tankį. atitikmenys: angl. defect semiconductor; hole semiconductor; p type semiconductor rus. дырочный… …   Chemijos terminų aiškinamasis žodynas

• Fairchild Semiconductor — Infobox Company name = Fairchild Semiconductor International, Inc. type = Public (NYSE: [http://finance.google.com/finance?q=NYSE:FCS FCS] ) genre = foundation = 1957 / 1997 founder = location = South Portland, Maine United States locations =… …   Wikipedia

• IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing — The IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing (SM) is a quarterly journal published by the IEEE Computer Society. It contains peer reviewed articles and other contribitions in the area of semiconductor device fabrication. The journal… …   Wikipedia

• Deep-level transient spectroscopy — (DLTS) is an experimental tool for studying electrically active defects (known as charge carrier traps) in semiconductors. DLTS establishes fundamental defect parameters and measures their concentration in the material. Some of the parameters are …   Wikipedia

• skylinis puslaidininkis — statusas T sritis chemija apibrėžtis Puslaidininkis, kuriame skylių tankis didesnis už laisvųjų elektronų tankį. atitikmenys: angl. defect semiconductor; hole semiconductor; p type semiconductor rus. дырочный полупроводник; полупроводник p типа… …   Chemijos terminų aiškinamasis žodynas

• дырочный полупроводник — skylinis puslaidininkis statusas T sritis chemija apibrėžtis Puslaidininkis, kuriame skylių tankis didesnis už laisvųjų elektronų tankį. atitikmenys: angl. defect semiconductor; hole semiconductor; p type semiconductor rus. дырочный… …   Chemijos terminų aiškinamasis žodynas

• полупроводник p-типа — skylinis puslaidininkis statusas T sritis chemija apibrėžtis Puslaidininkis, kuriame skylių tankis didesnis už laisvųjų elektronų tankį. atitikmenys: angl. defect semiconductor; hole semiconductor; p type semiconductor rus. дырочный… …   Chemijos terminų aiškinamasis žodynas